V1.0.9 20250415
1. 修复10M测量失效bug
20240717
1.0.1:
1. 修改部分单位
2. 完善部分小电感测量异常
3. 增加开机显示版本号
20240726
1.0.2:
1. 完善部分可控硅测试异常
2. 完善部分三极管测量异常
3. 修改测量和显示器件的时间差
20240802
1.0.3
1. 完善小电阻测试异常
20240820
1.0.4
1. 增加单项可控硅可测范围
20240902
1.0.5
1. 修改双二极管显示错乱问题
2. 修改小电阻显示错乱问题
20241021
1.0.6
1. 修改20K到50K电阻测试精度不准问题
20250106
1.0.7
1. 修改部分的双二极管和二极管无法测试问题
2. 修改部分三极管的引脚序号错乱问题
20250228
1.0.8
1. 修复100欧姆以内电阻误测二极管bug
2. 修复部分三极管的引脚序号错乱bug
1、修复示波器水平测量参数周期和脉宽由于越界导致显示错误的BUG
注意:压缩包中压缩了APP升级文件和FPGA升级文件,需解压后升级,不可直接升级.zip文件
V0.0.8:
1、修改电量不足倒计时关机的判断
20250321
APP1_DSO-TC4_V0.0.3_250228
APP2_DSO_TC4_V1.0.9_250321
1. 修复5.1K到20K测量错误问题
2. 修复20K到999K电阻显示为M单位问题
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202250228
APP1_DSO-TC4_V0.0.3_250228
1.在晶体管测量两个二极管时,图片显示错误的问题和参数多余显示问题
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20250221
APP1_DSO-TC4_V0.0.2_250221
APP2_DSO_TC4_V1.0.7_20250221
1.修改只能单次测量以及重启才能测量问题
2.修复二极管测量方向问题
3.修复示波器最大值、最小值、峰峰值显示不正确的问题。
4.修复晶体管测量两个二极管时显示靠太近的问题。
5.修改其他已知问题
V1.1.0
1、新增工厂测试模式
2、优化USB数据传输性能,提升数据读取与发送的稳定性
3、优化USB充电状态检测机制,提升检测响应速度
4、优化USB连接机制,提升设备USB连接稳定性
5、优化SCPI指令,修复序列号工具写入问题
6、修复点焊功能在特定操作顺序下无法工作的问题
V1.0.0.9
1.文件创建增加虚拟日期时间,修复电脑预览同名图片的缩略图时任显示旧缩略图的BUG。
V1.0.0.8
1.格式化磁盘后,首次截波,信号发生器截波没有预览BUG修复。
2.bode只一个通道幅值低于5mv时幅频特性异常BUG修复。
3.优化roll滚动模式波形显示速率,修复卡顿的BUG。
4.HIGHRES 16bit时时基50ns及之后的波形首尾偶发不正确的BUG修复。
5.bode spec参数设置时出现小数位转换异常BUG修复。(0.010切换到2.010时会变为2.009)
6.单次触发暂停后的测量参数不准BUG修复。
7.总线解码ASCII显示时数据超过127时死机BUG修复。